方塊電阻測(cè)試儀 型號(hào):TZ241-ST-21

方塊電阻測(cè)試儀是測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(表面電阻)的儀器，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜等同類物質(zhì)的薄層電阻。
該儀器以集成電路為；用基準(zhǔn)電源和運(yùn)算放大器組成穩(wěn)流源；帶回路正常指示電路；并配以LCD顯示讀數(shù)。
方塊電阻測(cè)試儀 型號(hào):TZ241-ST-21

特點(diǎn)
1采用集成電路作為儀器的主要部分；
2以LCD顯示讀數(shù)；
3采用單個(gè)電池供電，帶電池欠壓指示；
4體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
5手握式探筆，球形探針、鍍金探針接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜
6探頭帶抗靜電模塊

方塊電阻測(cè)試儀 型號(hào):TZ241-ST-21

技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量范圍
按方塊電阻量值大小分為二個(gè)量程檔：
1.方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；
2.方塊電阻 10.0～1999.9Ω/□；
分辨率：0.01Ω/□
恒流源
測(cè)量過程誤差：≤±0.8%
模數(shù)轉(zhuǎn)換器
量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD顯示；過量程均自動(dòng)顯示；小數(shù)點(diǎn)同步顯示；
測(cè)量不確定度
在整個(gè)量程范圍內(nèi)，測(cè)量不確定度≤5%
四探針探頭規(guī)格
間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
電源
9V疊層電池1節(jié)